Статья: Рекомбинация носителей заряда через мелкие уровни бора в кремнии при низких температурах (2019)

Читать онлайн

В данной работе изучен процесс рекомбинации носителей через мелкие примесные центры бора в кремнии при низких температурах. Основное внимание было уделено теоретическому объяснению «эмпирических» температурных зависимостей времени жизни  (T) носителей в интервале температур (1,74,2) K при концентрациях легирующей примеси nB  1014 см-3 и компенсацией  10 % (nD + nA  1013 см-3). Довольно точно удалось установить, что мелкий возбужденный уровень с энергией связи 5 мэВ (3s-состояние) является почти резонансным. Получены приближенные формулы для коэффициента резонансного захвата.

Consideration is given to the theoretical research of recombination process of mobile carriers across boron shallow impurities centers in silicon at low temperatures. Major attention was devoted to theoretical interpretation of empiric temperature dependencies of lifetime  (T) of the carriers in the temperature range of (1,74,2) K under doped impurity concentrations nB  1014 см-3 and compensation  10 % (nD + nA  1013 cm-3). It is enough exactly determined, that shallow excited level with binding energy 5 meV (3s-state) is almost resonant. The approximate formulas for coefficient of resonant capture are obtained.

Ключевые фразы: маршруты рекомбинации, резонансный уровень, коэффициент захвата, время жизни, ФОТОПРОВОДИМОСТЬ
Автор (ы): Муратов Темур Ташкабаевич
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
537.311.33. в вакууме
eLIBRARY ID
38570410
Для цитирования:
МУРАТОВ Т. Т. РЕКОМБИНАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА ЧЕРЕЗ МЕЛКИЕ УРОВНИ БОРА В КРЕМНИИ ПРИ НИЗКИХ ТЕМПЕРАТУРАХ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2019. №3
Текстовый фрагмент статьи