Статья: Образование поверхностных дефектов в n-CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением лазерной плазмы (2018)

Читать онлайн

Исследованы вольт-фарадные характеристики МДП-структур, полученных на основе эпитаксиальных слоев n-Cd0,24Hg0,76Te, подвергнутых воздействию мягкого рентгеновского излучения. Показано, что в результате релаксации электронных возбуждений в приповерхностном слое полупроводника генерируются точечные дефекты, изменяющие электрофизические свойства этого слоя и границы раздела «диэлектрик-полупроводник».

The voltage-capacitance characteristics of MIS structures based on epitaxial n-Cd0.24Hg0.76Te layers irradiated with soft X-rays were studied. It is shown that point defects were generated in the near-surface layer as a result of electron excitations relaxation. It changes the electrophysical properties of the nearsurface layer of a semiconductor and the insulator-semiconductor interface.

Ключевые фразы: РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, ЛАЗЕРНАЯ ПЛАЗМА, вольт-фарадная характеристика, точечные радиационные дефекты
Автор (ы): Средин Виктор Геннадиевич, Войцеховский Александр Васильевич, Ананьин Олег Борисович, Мелехов Андрей Петрович, Несмелов Сергей Николаевич, Дзядух Станислав Михайлович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.315.592. Полупроводники
eLIBRARY ID
36653043
Для цитирования:
СРЕДИН В. Г., ВОЙЦЕХОВСКИЙ А. В., АНАНЬИН О. Б., МЕЛЕХОВ А. П., НЕСМЕЛОВ С. Н., ДЗЯДУХ С. М. ОБРАЗОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ В N-CDXHG1-XTE МЯГКИМ РЕНТГЕНОВСКИМ ИЗЛУЧЕНИЕМ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2018. №4
Текстовый фрагмент статьи