Статья: Моделирование зонных диаграмм барьерных структур на основе КРТ (2018)

Читать онлайн

В данной статье представлен анализ зонных диаграмм барьерных фоточувствительных структур на основе CdxHg1-xTe (КРТ) для средней и дальней области излучения инфракрасного диапазона, работающих при температурах, близких к комнатным. Целью работы было формирование методики расчёта профилей энергетических зон в подобных структурах, учитывающей особенности реальных структур, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Проведены расчёты зонных диаграмм реальной фоточувствительной структуры на основе КРТ, выращенной методом молекулярно-лучевой эпитаксии в ИФП СО РАН (Новосибирск).

It is known that it is required deep cooling to achieve high sensitivity and reduced noise levels in semiconductor infrared (IR) photodetectors. This is due to a quite high level of charge carriers thermal generation in the narrow band-gap semiconductor material. In this regard, at present there are a lot of basic and applied research devoted to finding innovative ways to improve the performance and reduce the cost of IR photodetectors, including the development of new types of photodetectors. One of the main trends in the development of the technology of IR photodetectors is to increase the operating temperature of the device and seek a complete rejection of cryogenic cooling systems that significantly increase the cost of the device and narrow its scope. Barrier CdHgTe-based nBn type structures are analyzed in this paper. At represent such structures is considered as an alternative to creating a photodiode for middle and far infrared range. There are a number of unresolved structural and technological problems in the issue of the creation of such detectors. The presence of a barrier for holes in the valence band in the CdHgTe-based nBn structures requires a number of technological solutions, which are: the use of large external bias values, precise barrier layer parameters control including an acceptor doping of the barrier, and use of complex multi-layer barriers including the superlattices. The method of calculation of energy diagrams of barrier photosensitive structures based on MCT for medium and far infrared ranges is proposed, which takes into account the features of real structures grown by molecular beam epitaxy. The energy diagrams of the real barrier nBn structure based on MCT, grown by the MBE method at the ISP SB RAS, are calculated. Based on the calculation, the effect of the magnitude of the applied bias on the height of the barrier for holes in the nBn structure based on the n-type MCT is shown. Also, the dependence of barrier height for minority charge carriers in the structure on temperature is demonstrated.

Ключевые фразы: КРТ, cdxhg1-xte, фотодетектор, барьерная структура, nBn
Автор (ы): Войцеховский Александр Васильевич, Горн Дмитрий Игоревич, Дворецкий Сергей Алексеевич, Михайлов Николай Николаевич
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.383. Фотоэлектроника
eLIBRARY ID
36425419
Для цитирования:
ВОЙЦЕХОВСКИЙ А. В., ГОРН Д. И., ДВОРЕЦКИЙ С. А., МИХАЙЛОВ Н. Н. МОДЕЛИРОВАНИЕ ЗОННЫХ ДИАГРАММ БАРЬЕРНЫХ СТРУКТУР НА ОСНОВЕ КРТ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2018. №5
Текстовый фрагмент статьи